上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更日本韓國(guó)臺(tái)灣及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至今日，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!

使產(chǎn)品一次良品率提高：提供大量的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以便生產(chǎn)管理者對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時(shí)監(jiān)督、調(diào)整、管理。 減少操誤判錯(cuò)誤：ICT對(duì)錯(cuò)誤檢測(cè)將準(zhǔn)確穩(wěn)定，避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè)。 減少操作費(fèi)：ICT是一次性對(duì)整板進(jìn)行測(cè)試，也可以同時(shí)測(cè)試多塊聯(lián)板，只需一個(gè)操作員工。產(chǎn)品經(jīng)過(guò)ICT測(cè)試以后，為后段的功能測(cè)試掃除一切隱藏性問(wèn)題。 現(xiàn)代化的電子生產(chǎn)線，ICT58.COM擁有ICT進(jìn)行測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)良的卡片，是您接單的得力助手，是客戶發(fā)單的信心！

二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷(xiāo)售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷(xiāo)售 二手儀器買(mǎi)賣(mài) 二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT, 規(guī)格 . 測(cè)試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字) . 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7 . 測(cè)試治具 兩段式壓床 . 可測(cè)電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇 美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專(zhuān)利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。

檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光耦、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory 類(lèi)、常用驅(qū)動(dòng)類(lèi)、交換類(lèi)等IC。

測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。