ICT設(shè)備的制造廠家各異，全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國(guó))，Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum（美國(guó)）、AEROFLEX（美國(guó)）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。

二手TR-5001E 運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開(kāi)短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無(wú)疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無(wú)論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買(mǎi)賣 二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT

二手德律TR5001E ICT的功能能在數(shù)秒鐘內(nèi)檢出電路板上的零件-電阻、電容、電感、電晶體、二級(jí)管、穩(wěn)壓二級(jí)管、光偶器、繼電器等零件。能夠先找出制程不良所在，如漏件、錯(cuò)件、開(kāi)路、短路、反向等不良問(wèn)題。能夠?qū)⑸鲜鰡?wèn)題以印表機(jī)印出結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等，以供維修人員查看。

二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買(mǎi)賣 二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT, 規(guī)格 . 測(cè)試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字) . 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7 . 測(cè)試治具 兩段式壓床 . 可測(cè)電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm

選配: (寬) 500 mm x (長(zhǎng)) 350 mm x (高) 100 mm . 模擬硬件 1、六線式量測(cè) 2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源 3、AC/DC電壓源, DC電流源量測(cè) 4、元件R/L/C量 . 選配硬件 。模擬測(cè)試 1、TestJet技術(shù)非向量式開(kāi)路檢測(cè)，任意波形產(chǎn)生器(AWG) 。數(shù)字測(cè)試 1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì) 2、待測(cè)板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、邊界掃描, BGA Tree測(cè)試能力 5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄TR-5001E 選ICT 二手TR5001E

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇 美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。

定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來(lái)測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件

飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作的針床夾具，夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。

測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。