探測器SDD元素范圍從Na~U

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長色散型XRF（WDXRF）：通過衍射晶體將熒光X射線按波長分開，分辨率高，但儀器結構復雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過探測器直接測量熒光X射線的能量，結構簡單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質、冶金、環(huán)境、考古、材料科學等領域有廣泛應用。

天瑞儀器X射線熒光光譜儀EDX3600H優(yōu)勢明顯：
專為銅合金設計：針對銅合金材料的特性進行優(yōu)化，確保分析結果的準確性和可靠性。
：在的同時，提供更具競爭力的價格。
完善的售后服務：提供的售前、售中和售后服務，解決用戶的后顧之憂。

黃銅分析儀EDX3600H材質分析X熒光光譜儀的主要技術參數(shù)：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測器： SDD 探測器
X 光管：微型 X 光管
測量時間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg